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代理銷售:HORIBA堀場橢圓偏振光譜儀、HITACHI日立科學儀器光譜儀、OTSUKA大塚電子、MIKASA勻膠機、yamada山田鹵素強光燈、KOFLOC小島流量計、REVOX光箱、日本SSD防靜電、HITACHI日立金屬流量計、SIBATA柴田科學、日本ULVAC愛發(fā)科泵、CEDAR思達扭力計、TORAY東麗氣體濃度計、KOSAKA小坂臺階儀、TOKYOKEISO東京計裝流量計、AND愛安德、RYUKI東京流機流量計、IMV愛睦威地震儀、TSUBOSAKA壺坂電機、MITAKA三鷹光器、日本KURABO倉紡濃度計.
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Otsuka大塚紫外分光輻射照度測量系統 New
產品信息 特征 該檢測器 是一種高性能的分光光度計 ,在光源測量、反射/透射...
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Otsuka大塚總光譜光通量測量系統 HM/FM series
總光譜光通量測量系統 HM/FM series 產品信息 特點 可處理高達2400mm的直管...
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Otsuka大塚紅外量子效率測量系統
產品信息 特殊長度 可以測量0.01%或更低的單線態(tài)氧的產生量子產率。 單線態(tài)...
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Otsuka大塚高感度分光輻射亮度計
特點: 采用具有高亮度和色度精度的光譜方法(衍射光柵), 0.005cd / m 2的...
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Otsuka大塚高速LED光學特性儀
產品信息 特 點 與產線的控制信號同步 通過光纖的自由的測試系統 實現*短2m...
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Otsuka大塚紫外分光配光測量系統
產品信息 特征 通過分光光度分布對紫外光進行高精度測量 從配光上評估紫外光...
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Otsuka大塚紫外分光全光譜光測量系統
產品信息 特征 具有高靈敏度檢測器的寬測量范圍 具有紫外線自吸收校正的高精...
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Otsuka大塚高速相位差測量裝置
產品信息 特 點 可測從0nm開始的低(殘留)相位差 光軸檢出同時可高速測量相...
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Otsuka大塚小角激光散射儀
PP-1000小角激光散射儀,利用小角激光散射法(Small Angle Laser Scatterin...
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Otsuka大塚橢偏儀
產品信息 特點 可在紫外和可見(250至800nm)波長區(qū)域中測量橢圓參數 可分析...
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Otsuka大塚nanoSAQLA
● nanoSAQLA是一臺通過動態(tài)光散亂法(DLS法)測量粒徑(粒徑0.6nm~10um)的...
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Otsuka大塚液晶層間隙量測設備
產品信息 特 點 采用了偏光光學系和多通道分光檢出器 有可對應各種尺寸的裝...
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Otsuka大塚彩色濾光片、光刻膠測量裝置
產品信息 特點 以透過光譜測量、色測量為代表,通過濃度測量、膜厚測量、反...
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Otsuka大塚ZETA電位·粒徑·分子量測系統
產品信息 特點 使用了*新型高感度APD,感度提升及縮短測量時間 通過測量自動...
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Otsuka大塚量子效率測量系統
產品信息 特 點 測量精度高 可瞬間測量**量子效率(**量子收率) 可去除再激...
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Otsuka大塚膜厚儀
可攜帶至現場的手持式可測量0.1μm單位,具有形狀的樣品也可非破壞的測量,...
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Otsuka大塚線掃描膜厚儀
采用線掃描方式檢測整面薄膜 硬件軟件均為**設計 作為專業(yè)膜厚測定廠商,提...
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Otsuka大塚線掃描膜厚儀
產品信息 特點 **高速高精度進行薄膜等面內膜厚不均一性檢測 硬件軟件均為*...
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Otsuka大塚膜厚檢測儀
產品信息 特 點 采用分光干涉法 搭載高精度FFT膜厚解析系統(** 第4834847號...
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Otsuka大塚Load Port對應膜厚測量系統
產品信息 特點 支持集成到 Φ300mm EFEM 單元的備用端口 實現嵌入在晶片中的...
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